Мы продолжаем публиковать материалы, в которых освещаются тенденции и технологии в области создания ПО для радиолокационных комплексов. Предлагаем вашему вниманию подготовленный нашими специалистами перевод статьи Design Challenges of Next-Generation AESA Radar, опубликованной в журнале Microwave Journal. В статье рассматриваются технологии автоматизации электронного проектирования РЛС с ФАР и АФАР и приводятся примеры расширений среды разработки от NI AWR, поддерживающих АФАР нового поколения и РЛС с АФАР.
Автор: Dr. Gent Paparisto, AWR Group, NI.
Источник: http://www.microwavejournal.com/articles/28192-design-challenges-of-next-generation-aesa-radar
Краткий обзор
Фазированные антенные решетки (ФАР) первоначально использовались в составе военных РЛС для сканирования воздушного пространства в поиске самолетов и ракет. Благодаря возможности применения в различных областях и появлению активных фазированных антенных решеток (АФАР) РЛС сегодня используются на спутниках и БПЛА. В связи с появлением новых носителей повышаются требования к размерам и производительности, а соответствовать им позволяют новые архитектуры, радиочастотные технологии и методы обработки сигналов, в т. ч. усилители на базе нитрида галлия (GaN); монолитные интегральные схемы СВЧ-диапазона (СВЧ МИС) и устройства на их базе; гетерогенная интеграция, позволяющая обойти закон Мура; дешевые приёмопередатчики, новая микроэлектроника для работы с КВЧ-диапазоном и повсеместное внедрение электронной оптики.1
Для поддержания темпов развития также совершенствуются технологии автоматизации электронного проектирования, чтобы обеспечить разработчиков архитектурами, спецификациями, возможностью натурного воплощения отдельных компонент и контрольными проверками перед прототипированием. В статье рассматриваются тенденции развития этих технологий и приводятся примеры расширений среды разработки от NI AWR, поддерживающих АФАР нового поколения и РЛС с АФАР.
Технология ФАР
РЛС с АФАР состоит из отдельных излучателей на основе твердотельных модулей приема/передачи с малошумящим приемником, усилителем, а также элементами цифрового управления фазой/задержкой и коэффициентом усиления. Регулирование фазы и амплитуды входного сигнала обеспечивает управление диаграммой направленности антенны (ДНА) как по дальности, так и по азимуту, позволяя ориентировать главный лепесток ДНА в целевом направлении. В отличие от механически управляемой РЛС фазовая решетка вращает ДНА в пространстве практически без задержек. Цифровое управление усилением модуля приема/передачи и синхронизацией обеспечивает не только динамичное управление лучом, но и быстрое переключение режимов радиолокации с крайне малыми боковыми лепестками, что в итоге дает значительное снижение ЭПР антенны в сравнении с пассивной ФАР и механически управляемыми антеннами.2
Ширина луча зависит от количества элементов в решетке. С повышением количества элементов (датчиков) в решетке повышается «острота» луча и эффективность распознавания небольших целей. Сегодня РЛС с АФАР состоят из тысяч элементов, взаимодействующих между собой посредством сложных структур, разработанных для снижения размеров/веса и повышения производительности, другими словами – для снижения потерь.
Формирование модулирующего сигнала на более низких частотах (<10 ГГц) с увеличением длины волны и как следствие пространственного разнесения, размера антенны, промежуточной частоты и несущего сигнала может осуществляться с помощью модульных компонентов и типовых СВЧ МИС. Длина линий передач компенсируется сниженными потерями на данных частотах, а сопряжение с антенной можно считать независимым от ИС по причине гибких требований к сборке элементов. Однако в диапазоне КВЧ (>30 ГГц) антенны с малым пространственным разнесением, малыми потерями на корпусе и контролем импеданса обеспечивают высокий функционал ИС и делают их сложные версии более привлекательными для использования. Разработка таких сложных схем для ВЧ-сигнализации должна осуществляться на основе программ моделирования с анализом электромагнитного спектра для дальнейшего применения в РЧ- и СВЧ-электронике.3
Развивая технологии интеграции
Рис.1 РЛС с АФАР AN/APG-80-F-16 компании Northrup Grumman демонстрирует только половину всех элементов решетки |
Имея много преимуществ, АФАР являются чрезвычайно сложными в проектировании и производстве, требуя единовременных затрат на разработку больше, чем обычные антенны. Высокие затраты обусловлены большим количеством активных электронных модулей в конструкции, число которых может составлять от сотен до нескольких тысяч на единицу продукции, часто реализуемых на базе СВЧ МИС из арсенида галлия (GaAs) (от 5 до 10 на систему), как представлено на рисунке 1.
Изначально финансируемая и разрабатываемая при поддержке Министерством обороны США в 1980-1990 гг. технология СВЧ МИС на базе GaAs была пригодна только для плотных конструкций (поперечное сечение <1 см) модулей приема/передачи, работающих на частоте 10-20 ГГц. Достижения в разработке СВЧ МИС стали возможны благодаря более мощному программному обеспечению и малому потреблению мощности. Это позволило инженерам разрабатывать с большей точностью сложные схемы и библиотеки РЧ-блоков. Если ранее разработка СВЧ МИС была нацелена на комбинирование от десятков до сотен активных и пассивных компонентов (транзисторы, PIN-диоды, резисторы, конденсаторы и дроссели) на одной подложке из GaAs, то сегодня функциональные возможности АФАР комбинируются с такими радиолокационными блоками, как малошумящие усилители, усилители мощности, блоки переключения и фазовращатели с одноканальной или многоканальной МИС. Еще бóльший функционал/плотность уровней достигается с помощью многокристальных модулей при использовании новейших материалов, устройств и методов интеграции.
Рис.2 110 ГГц-передатчик ФАР на пластине 4х4 |
Отдел микросистемных технологий DARPA занимается двумя программами по исследованию интеграции устройств следующего поколения: «Комбинированные материалы на основе кремния» (Compound Semiconductor Materials on Silicon, COSMOS) и «Доступная разнотипная гетерогенная интеграция» (Diverse Accessible Heterogeneous Integration, DAHI). Первая программа направлена на изучение новых методов полной интеграции полупроводниковых материалов или полупроводников категории III-V с современными схемами на основе КМОП-структур. Вторая, продолжая работу первой, разрабатывает процессы гетерогенной интеграции для комбинирования передовых устройств на основе полупроводников категории III-V вместе с инновационными материалами и устройствами на основе кремниевых КМОП-структур с большой плотностью.4
Технология интеграции достигла значительных успехов за последние 10 лет. В 2006 г. в рамках программы DARPA «Интегрированный датчик – структура» (Integrated Sensor is Structure, ISIS) Научно-исследовательский институт штата Джорджия разработал четырехканальный модуль приема/передачи на базе кремний-германия (SiGe) с управляющей схемой на одном кристалле со стоимостью $10 за модуль. В 2008 г. исследователи Калифорнийского университета в Сан-Диего осуществили колоссальный скачок в производительности системы и высокий уровень плотности конструкции с первым РЧ-формированием сигнала SiGe на 6-18 ГГц, схемой приемника ФАР из 8 антенных элементов с 5-битным управлением фазы и встроенным в кристалл смесителем 8:1.5 В 2009 г. был создан передатчик ФАР из 16 элементов, работающий на 45-50 ГГц, а в 2013 г. – 110 ГГц-передатчик ФАР на пластине 4х4 6 с высокоэффективными встроенными в кристалл антеннами (см. рис.2).
Достижения в развитии технологий на основе GaN
Пока ФАР приобретают вид кремниевых кристаллов, поддерживающих множество излучателей, в случаях с высокими требованиями к производительности (особенно, к показателям шумов и выходной мощности) предпочтительными решениями оказываются комбинации кремния с ВЧ-трактом из полупроводников категории III-V. Все чаще GaN вытесняет GaAs как материал для мощных и широкополосных ВЧ-трактов. СВЧ МИС на базе GaN составляет от 1/3 до 1/4 всего размера эквивалентной по мощности МИС на базе GaAs. Плотность мощности компенсирует в два раза бóльшую стоимость пластины GaN в сравнении с пластиной на GaAs: всего 50-56 % от стоимости пластины GaAs на произведенный Ватт мощности. Поскольку стоимость GaN продолжает падать, ожидается повсеместный отказ от использования GaAs-пластин в ФАР.7
Увеличивающийся поток инвестиций в полупроводники с широкой запрещенной зоной ведет к переходу силовой электроники на новый уровень, нарушая закон Мура. Исследователи стремятся улучшить GaN-технологии гетерогенным интегрированием GaN на поверхности кремниевых пластин. Так, интеграция GaN-технологий на бóльшие кремниевые пластины и стандартные процессы производства обеспечат богатый функционал и высокую производительность при меньших финансовых затратах. Все это требует от разработчиков правильного выбора технологий для достижения наилучшего результата.
Несмотря на то, что плотность СВЧ МИС на основе GaAs намного меньше в сравнении с кремниевыми ИС, разработка ВЧ-электроники требует тщательного изучения процессов взаимодействия и моделирования электромагнитной совместимости для расчета паразитных помех, которые могут привести к некорректной работе. Среда проектирования NI AWR Design Environment позволяет моделировать устройство, топологию компонентов и их соединения, т.е. основную часть разработки РЧ/СВЧ-схем. В связи с развитием технологий и повышением уровня интеграции анализ на данном этапе имеет важное значение для успешной разработки СВЧ МИС.
Развитие кремниевых технологий и технологий на основе III-V-полупроводников отвечает требованиям нового поколения ФАР к размеру и функционалу, однако высокая плотность транзисторов повышает требования к качеству обработки пластин, поскольку выход из строя одного транзистора из сотни из-за производственного дефекта означает выход из строя всей системы. В результате построение СВЧ/РЧ-схем на кристалле требует установления строгих правил расположения элементов и их соединений. Для качественной разработки необходимо проведение детальной проверки и всестороннего анализа на этапе проектирования с целью определения производственных допусков.
Комплексное моделирование при проектировании ФАР
Проблемы при проектировании и высокие затраты на разработку часто объясняются неспособностью высокоуровневых инструментов точно моделировать взаимодействие множества отдельных, но взаимосвязанных каналов. Создание полных или частичных тестовых прототипов оборудования дорого и с точки зрения производства, и с точки зрения проведения испытаний. Такая проблема будет лишь усугубляться с усилением интеграции ФАР и систем электронного управления ДНА.
Таким образом, разработка обычно ограничивается демонстрацией опытного образца, а несоответствие техническим требованиям приводит к недопустимому числу стадий разработки и испытаний всей системы. Комплексное моделирование стало необходимым. Поскольку производительность ФАР не зависит только от антенны или только от поведения СВЧ-электроники, для точного прогнозирования поведения всей системы моделирование должно учитывать их совместную работу.
Зачастую высокоуровневый анализ осуществляется с использованием пользовательских настроек: таблицы с расчетными данными или общие математические вычисления. Как правило, такие настройки различаются по сложности в зависимости от сферы использования. Т. е. пользовательские инструменты настройки используются для установления порогов производительности подсистемы (СВЧ МИС/антенн/пассивных и активных РЧ-систем).
Тщательный анализ предлагает программное обеспечение Visual System Simulator™ (VSS) для разработки коммуникационных систем, интегрирующее показатели производительности каждого компонента системы с ФАР для оценки производительности всей системы (см. рис. 3). На этапе проектирования такой анализ мог бы использоваться для определения топологии системы и технических требований для каждого компонента. С появлением более детальных моделей подсистемы такой анализ может быть использован в полном анализе системы для получения более точных данных.
Рис.3. VSS при моделировании ФАР анализирует излучаемую мощность в зависимости от уровней питания, энергетический баланс радиолинии и симулирует сигналы, используемые системой.
VSS предлагает ряд возможностей для полного анализа АФАР, а моделирование показывает, например, зависимость производительности системы от направления луча, конструкции антенны и активных/пассивных элементов цепи, используемых в управлении лучом.
Системный анализ позволяет разработчикам:
Кроме того, анализ параметров позволяет разработчику принимать решение о внесении изменений в систему, чтобы в итоге эффективно сбалансировать стоимость и производительность разрабатываемой системы. Анализ параметров затрагивает технические требования к модулям приема/передачи, оценку фазового сдвига (число ошибочных бит), изучение вопроса выбора схемы смесителя/делителя, модуляции сигнала на резистивных или реактивных элементах, количества антенных элементов и расстояние между ними.
Также в VSS возможно моделирование ФАР, состоящих из тысяч антенных элементов с использованием конфигураций различных стандартов или любых пользовательских. Поведение ФАР легко задается с помощью ввода параметров посредством диалогового окна или загрузки файла: смещения фазы, коэффициента усиления, угловых координат (θ/φ), местоположения x/y (единицы длины или параметр относительно λ) и частоты сигнала. Модель ФАР может устанавливаться как в режим приемника (Rx), так и передатчика (Tx). В режиме Tx мощность возбуждения рассчитывается на основе пользовательских настроек сигнала, включающих опции:
Регулирование значения амплитуды напряжения возбуждения посредством плавного усиления часто используется для формирования луча и снижения уровня боковых лепестков. Обычно в блоке ФАР реализуются плавное линейно спадающее амплитудное распределение. Коэффициент амплитудного распределения показывает, нормализовано ли плавное усиление на излучателях. Обычно плавно спадающее амплитудное распределение реализуются моделью ФАР, включающей антенные решетки Дольфа-Чебышева с N-параметрическим амплитудным распределением Тейлора Хансена и равномерным распределением. Кроме того, пользователь может задавать произвольное амплитудное распределение, регулируя усиление (дБ) и фазу для каждого элемента решетки, как показано на рисунке 4.
Рис. 4. Линейный спад амплитудного распределения при управлении ДНА и боковыми лепестками
Помимо моделирования различных типов распределения сигнала и частотно-зависимой работы, ФАР модель позволяет симулировать возможные сбои в работе решетки из-за производственных дефектов или некорректной работы ее элементов. Расчеты коэффициента усиления, фазы осуществляются как на компонентном уровне, так и на уровне всего блока для формирования более глубокой оценки чувствительности к отклонениям любого из параметров ФАР.
Диалоговое окно для ввода параметров позволяет пользователю определять архитектуру ФАР на основе стандартных или пользовательских моделей. Опция управления сеткой позволяет построить ФАР поэлементно вдоль осей x и y: nx и ny — расстояния между элементами, dx и dy — расстояние между элементами относительно осей, cγ — угол между осями (γ = 90о устанавливает прямоугольную сетку, а 60о – треугольную).
Любое положительное значение γ конфигурирует ФАР в виде решетки, но с помощью опции управления можно сконфигурировать и круговые ФАР с одним или несколькими кругами. Например, количество элементов в каждом концентрическом круге и радиус каждого из них могут быть заданы как вектор переменными nc и r. Примеры обеих конфигураций представлены на рисунке 5.
Рис. 5 Обычные модели геометрии ФАР в VSS: а) решетчатая и b) круговая
Разработчики могут устанавливать коэффициенты усиления или ДНА для каждого антенного элемента ФАР (см. рис. 6), что позволяет использовать различные варианты ДНА для внутренних, крайних и угловых элементов. ДНА каждого антенного элемента зависит от его расположения в ФАР, что можно измерить в лабораторных условиях или же рассчитать методом конечных элементов в 3D и любых произвольных плоскостях в интегрированных симуляторах электромагнитной среды AXIEM и Analyst™. В качестве простейшей модели можно рассмотреть ФАР с конструкцией 3х3, возбуждая один элемент (внутренний, крайний или один из угловых) и заканчивая всеми, а затем полученные результаты сохранятся в файле выходных данных. Такой подход учитывает взаимные влияния с соседними элементами первого порядка. Для изучения взаимных влияний дальних порядков можно расширить данную модель до 5х5.
Рис. 6. Микрополосковая антенна с одним элементом.
VSS обладает очень важной функцией: моделирование РЧ-тракта отдельных элементов ФАР, что необходимо в связи с влиянием РЧ-тракта на всю систему. Так, например, при линейно спадающем амплитудном распределении, обычно применяемом в ФАР, РЧ-тракты могут повлиять на работу элементов с большим коэффициентом усиления: заставить работать с отклонением от линейной области. В качестве альтернативы разработчики могут использовать различные РЧ-тракты для различных элементов. Несмотря на сложность реализации, это повышает производительность всей ФАР. Моделирование ФАР в VSS дает возможность разработчикам добиться либо единообразия РЧ-трактов для всех элементов, либо при использовании различных РЧ-трактов отслеживать потери в производительности на каждом элементе. Таким образом, VSS предлагает уникальные функции.
Заключение
С усложнением конструкций АФАР, увеличением их составных элементов и развитием электроники критически важными становятся разработка и тестирование систем на соответствие техническим требованиям каждого элемента и тракта передачи данных. Для решения таких задач программное обеспечение компании NI AWR предлагает на одной платформе проектирование, моделирование поведения системы, анализ электромагнитной совместимости, позволяя команде разработчиков оценивать производительность создаваемых систем и взаимодействие элементов системы еще до прототипирования.
Список литературы:
[1] http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3928903/
[2] http://www.ausairpower.net/aesa-intro.html
[3] Xiaoxiong Gu et al., “W-Band Scalable Phased Arrays for Imaging and Communications,” IEEE Commun. Mag., April 2011, pp. 196-20.
[4] Sanjay Raman et al., “The DARPA Diverse Accessible Heterogeneous Integration (DAHI) Program: Towards a Next-Generation Technology Platform for High-Performance Microsystems”, CS MANTECH Conference, April 23rd - 26th, 2012, Boston, Massachusetts, USA
[5] http://www.microwavejournal.com/articles/4757-an-eight-element-6-to-18-ghz-sige-bicmos-rfic-phased-a...
[6] http://phys.org/news/2012-04-silicon-wafer-scale-ghz-phased-array.html
[7] Mike Harris et al., “GaN-based Components for Transmit/Receive Modules in Active Electronically Scanned Arrays”, CS MANTECH Conference, May 13th - 16th, 2013, New Orleans, Louisiana, USA